Оборудование

• Тип электронной пушки: с полевой эмиссией;
• Рабочий диапазон ускоряющих напряжений: от 100 В до 30 кВ;
• Детекторы: вторичных электронов, отраженных электронов, STEM-детектор, ЭДС — детектор.
• Разрешающая способность: не хуже 1 нм при 15 кВ, не хуже 2,1 нм при 1 кВ;
• Увеличение: в диапазоне от 25х до 1 000 000х.
• Назначение: Растровый электронный микроскоп JSM-7500F позволяет проводить с высоким разрешением микроструктурные исследования широкого круга твердых материалов, а также элементный анализ исследуемых объектов как точечно, так и с функцией картирования по поверхности. Данная функция позволяет определить состав отдельных структурных элементов поверхности, а также определить химические неоднородности на поверхности образца.

• Режимы работы: туннельная и атомно-силовая микроскопия (контактный, полуконтактный, бесконтактный режимы, включающие в себя: магнитно-силовую микроскопию, электросиловую микроскопию, SKPM, диссипативную силовую микроскопию, латерально-силовую микроскопию, фазовую спектроскопию, силовую спектроскопию, функции наноманипулирования и нанолитографии);
• Разрешение в плоскости XY: не хуже 0,1 нм;
• Разрешение по оси Z: не хуже 0,01 нм;
• Поле сканирования в плоскости XY: 10 × 10 мкм и не менее 9 мкм для режима высокого разрешения;
• Назначение: позволяет исследовать структуру поверхности как проводящих, так и непроводящих объектов с атомарным разрешением, а также регистрировать ряд уникальных свойств нанобъектов, которые другими методами наблюдать невозможно.

• Напряженность магнитного поля: 9,4 Тл;
• Рабочая частота на 1Н: 400 МГц;
• Диапазон частот: от 109Ag до 1Н (18МГц ÷ 400МГц) — 1H, 13С, 15N, 19F, 29Si, 31P, 77Se, 195Pt, и др.;
• Датчики:
— широкополосный, с автоматической настройкой и Z-градиентом; 5 мм ампулы;
— инверсный, с автоматической настройкой и Z-градиентом; 5 мм ампулы;
— низкочастотный, 10 мм ампулы;
— твердотельный; широкополосный, 4 мм ротор;
• Температурный диапазон: -140°С ÷ +150°С (для твердотельного датчика +25°С ÷ +100°С);

• Стандартная частота: 8,75 – 9,65 ГГц (Х-диапазон);
• Чувствительность: не хуже 7х109 спин/ 0,1 мТ (при модуляции 100 кГц и максимальной мощности);
• Диапазон изменения магнитного поля: от -10 до 2000 мТ;
• Разрешение: 2,35 мкT;
• Резонатор: TE011 цилиндрический с добротностью 18 000;
• Контроль температуры измеряемого образца: в пределах от -170 до 200○С;
• Прибор оснащен устройством автоматического вращения твердотельных образцов в магнитном поле;
• Назначение: позволяет проводить качественный и количественный анализ парамагнитных материалов, исследовать динамику молекул, механизмы химических реакций, в том числе фотоиндуцированных, исследовать магнитные свойства материалов, анализировать состав пищевых продуктов, биологических объектов и т.п. на содержание парамагнитных металлов, свободных радикалов.

• Метод напыления: термическое (резистивное) вакуумное напыление;
• Количество испарителей:
— специализированный термический испаритель для органических соединений, максимальная температура испарения 6000 С;
— 2 резистивных испарителя общего назначения, максимальная температура испарения 17000С;
• Нагрев изделий до заданной температуры, контроль и поддержание температуры в процессе напыления слоев;
• Система контроля толщины напыляемых слоев: на основе кварцевых резонаторов;
• Подложкодержатель: карусельного типа с приводом вращения диаметром 300 мм;
• Диапазон температур нагрева подложек: 50…250°С.

• Метод напыления: ионно-лучевой;
• Осаждения слоев с минимальной толщиной слоя 0,8-1 нм;
• Неравномерность покрытия: до 3%;
• Количество мишеней: 3;
• Наличие дополнительного ионного источника и системы ввода реакционного газа.
• Возможность использования различных рабочих газов.
• Размер подложки: до 100 мм.

• Комплекс обеспечивает контролируемое напыление металлических (окисляющихся, неокисляющихся) и углеродных покрытий;
• Метод напыления:
— Магнетронное для металлов;
— Электродуговое для углерода (напыление углеродными стержнями);
— Напыление углеродной нитью;
• Диаметр мишеней: 57 мм с толщиной от 0,3 до 0,5 мм;
• Система контроля толщины напыляемых слоев: на основе кварцевых резонаторов;
• Максимальный вакуум: не хуже 5×10-5mbar;
• Предметный столик: Ø 60мм, скорость вращения 8-20 об/мин.

• Назначение: CHNS-анализатор vario MICRO cube обеспечивает проведение одновременного элементного анализа на углерод (С), водород (Н), азот (N), сера (S) в твердых и жидких пробах органических и неорганических соединений на микронавесках без потери точности методом высокотемпературного каталитического сжигания при температуре до 1200°С;
• Рабочий диапазон определения элементов:
— по С: от 0,03 до 7 мг (или 100%);
— по H: от 0,03 до 0,5 мг (или 100%);
— по N: от 0,03 до 1,1 мг (или 100%);
— по S: от 0,03 до 1,2 мг (или 100%);
• Максимальная масса пробы:
— для неорганического материала (например, почва): до не более 300 мг;
— для органического материала: до не более 10 мг.
• Точность определения элементов (среднее квадратичное отклонение) при анализе стандартных образцов массой порядка 2 мг: не хуже 0,1%.

• Назначение: регистрация ИК спектров в стандартных режимах (поглощение, пропускание, отражение) в среднем и ближнем ИК диапазоне органических, неорганических, композитных и др. образцов в жидком и твердом виде со стандартными методами пробоподготовки (прессование таблеток с KBr, суспензия в вазелиновом масле), а также при совместном использовании с инфракрасный микроскоп HYPERION 2000 обеспечивает микроскопические исследования микро- и ультрасрезов органических, неорганических, композитных, биологических, а также молекулярных пленок и др. образцов в диапазоне длин волн от 12 000 см-1 до 600 см-1 в режимах: пропускания, отражения, НПВО и «Скользящего луча» с возможностью построения точечных карт распределения веществ с разрешением до 1 мкм;
• Спектральный диапазон: от 15 500 см-1 до 350 см-1;
• Спектральное разрешение: не хуже 0,4 см-1;
• Соотношение сигнал/шум: не хуже 50 000 : 1;
• Точность волнового числа: не хуже 0,01 см-1;
• Фотометрическая точность: не хуже 0.1% пропускания (Т);

Спектрофотометр Hitachi U-3900 оборудован интегрирующей сферой и позволяет не только регистрировать спектры пропускания (поглощения) прозрачных образцов и растворов, но и проводить измерения диффузного отражения поверхности твердых образцов и абсорбционных измерений мутных образцов диапазоне длин волн 350 — 750 нм.